Sytnikov V.E., Samoilenkov S.V., Degtyarenko P.N., Kopylov S.I., Balashov N.N., Ivanov S.S., Zheltov V.V., Molodyk A.A., Gorbunova D.A.
Sytnikov V.E., Samoilenkov S.V., Degtyarenko P.N., Kopylov S.I., Balashov N.N., Ivanov S.S., Altov V.A., Zheltov V.V., Lipa D.
Ключевые слова: power equipment, HTS, REBCO, substrate Hastelloy, coated conductors, cables three-phase, ac losses, design, numerical analysis
Vysotsky V.S., Samoilenkov S.V., Radchenko I.P., Fetisov S.S., Sotnikov D.V., Chepikov V.N., Bykovsky D.P.
Ключевые слова: HTS, REBCO, coated conductors, anisotropy, critical caracteristics, critical current, homogeneity, magnetic field dependence
Samoilenkov S.V., Kozub S.S., Tkachenko L.M., Lee S.R., Bogdanov I.V., Sytnik V.V., Terskiy I.S., Trusov O.V., Shirshov L.S., Smirnov V.M., Shuvalov V.I., Shcherbakov P.A., Molodyk A.A.
Kaul A.R., Samoilenkov S.V., Markelov A.V., Amelichev V.A., Kamenev A.A., Mankevich A.S., Blednov A.V., Kuchaev A.I., Vavilov A.P., Makarevich A.M., Shchukin A.E., Kalitka V.S., Adamenkov A.A., Chepikov V.N., Matveev A.T., Burova L.I.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, substrate Ni-Cr-W, fabrication, buffer layers, MOCVD process, RABITS process, template layers
Kaul A.R., Samoilenkov S.V., Markelov A.V., Amelichev V.A., Dosovitsky G.A., Kamenev A.A., Mankevich A.S., Blednov A.V., Ibragimov S.A., Kuchaev A.I., Vavilov A.P.
Ключевые слова: HTS, REBCO, films, substrate SrTiO3, seed layers, texture, critical caracteristics, critical current density, MOCVD process, fabrication, experimental results
Ключевые слова: HTS, YBCO, films, MOCVD process, substrate SrTiO3, nanoscaled effects, nanodoping, defects columnar, fabrication
Rodionov D.P., Gervas’eva I.V., Khlebnikova Y.V., Sazonova V.A., Kaul A.R., Samoilenkov S.V., Dosovitskii G.A., Akshentsev Y.N., Kazantsev V.A., Vinogradova N.I., Mudretsova S. N., Garshev A. V.
Stadel O., Schmidt J., Wahl G., Gorbenko O.Y., Kaul A.R., Samoilenkov S.V., Keune H., Melnikov O.V., Muydinov R.Y., Korsakov I.E.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate Ni alloy, MOCVD process, buffer layers, reel-to-reel process, fabrication
Schmidt J., Wahl G., Gorbenko O.Y., Kaul A.R., Samoilenkov S.V., Keune H., Melnikov O.V., Stadel O.(o.stadel@tu-bs.de), Muydinov R.Y., Korsakov I.E.
Ключевые слова: HTS, buffer layers, MOCVD process, substrate Ni-W, microstructure, fabrication
Schmidt J., Wahl G., Gorbenko O.Y., Kaul A.R., Stadel O.(o.stadel@tu-braunschweig.de), Samoilenkov S.V., Keune H., Melnikov O.V., Korsakov I.E., Muydinov R., Henning A., Kurrat M.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, substrate Ni-W, buffer layers, reel-to-reel process, MOCVD process, fabrication
Schmidt J., Wahl G., Gorbenko O.Y., Kaul A.R., Stadel O.(o.stadel@tu-braunschweig.de), Samoilenkov S.V., Keune H., Melnikov O.V.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate Ni-W, reel-to-reel process, buffer layers, MOCVD process, texture, fabrication
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.